束缚结构之损坏检测方法

摘要

明为有关一种束缚结构之损坏检测方法，该束缚结构包括有基座及基座内部之检测装置，该基座于二侧间连结有内部具光纤线体之带体，而检测装置系具有微处理器，且微处理器电性连接有光发射元件、光接收元件以及无线传输模组，并于实际应用时透过光发射元件间歇性朝光纤线体内传送脉冲至光接收元件，当微处理器判断光接收元件所接收之脉冲数量不同于预设脉冲数量时，则代表带体及内部之光纤线体在受破坏后并将其之切断置于一外来光照处，此时微处理器即透过无线传输模组将警示讯号传送至预设电子装置，以供透过预设电子装置得知带体已遭受破坏。

主权项

一种束缚结构之损坏检测方法，该束缚结构系包括有基座及设置于基座内之检测装置，且基座于二侧间连结有带体，再于带体内设置有二侧连接于检测装置之光纤线体，而检测装置系具有微处理器，且该微处理器于内部设有低速计时器及高速计时器，而微处理器电性连接有连接于光纤线体一侧之光发射元件、连接于光纤线体另侧之光接收元件以及无线传输模组，其方法流程包括：(A01)检测装置启动，并执行以下步骤：(A011)微处理器透过无线传输模组侦测检测讯号；(A012)微处理器判断是否接收到检测讯号，若判断为「是」，则进行步骤(A013)；若判断为「否」，则回到步骤(A011)；(A013)微处理器启动低速计时器及高速计时器；(A02)微处理器于预定时间内间歇性触发光发射元件朝光纤线体内传送脉冲至光接收元件，并执行以下步骤：(A021)低速计时器开始倒数；(A022)高速计时器开始倒数；(A023)高速计时器倒数结束时，微处理器驱动光发射元件由光纤线体朝光接收元件传送脉冲；(A024)微处理器停止光发射元件传送脉冲；(A025)微处理器判断低速计时器倒数是否为结束，若判断为「是」，则进行步骤(A026)
；若判断为「否」，则回到步骤(A022)；(A026)微处理器关闭低速计时器及高速计时器；(A03)微处理器计算光接收元件所接收之脉冲数量；(A04)微处理器判断脉冲数量是否符合预设脉冲数量，若判断为「是」，则进行步骤(A05)；若判断为「否」，则进行步骤(A06)；(A05)检测装置进入休眠状态；(A06)微处理器藉由无线传输模组将警示讯号传送至预设电子装置。