| 摘要 |
Es wird beschrieben ein Verfahren zur mikroskopischen Abbildung einer Probe (14), die in einem Töpfchen (1) am Boden (3) des Töpfchens (1) anhaftet, wobei zur mikroskopischen Abbildung der Probe (14) folgende Schritte ausgeführt werden: (a) das Töpfchen (1) wird mit Beleuchtungsstrahlung (2) beleuchtet und (b) der beleuchtete Boden (3) des Töpfchens (1) wird von der Unterseite (15) her vergrößernd abgebildet und ein Bild (23a) des beleuchteten Bodens (3) aufgenommen, wobei eine töpfchenverursachte Ungleichmäßigkeit der Beleuchtung des Bodens (3) ausgeglichen wird, indem (c) ein probenloses Test-Töpfchen (22) bereitgestellt wird, das bis auf die fehlende Probe dem zu mikroskopierenden Töpfchen (1) entspricht, (d) an dem Test-Töpfchen (22) eine Referenzmessung mittels der Schritte (a) und (b) durchgeführt wird, wobei ein Referenzbild (24) aufgenommen wird, das den gesamten Boden (3) zeigt, (e) im Referenzbild (24) wird eine Helligkeitskorrekturangabe ermittelt, wobei die Helligkeitskorrekturangabe eine Helligkeitsschwankung als Funktion des Ortes auf dem Boden (3) des Test-Töpfchens (22) angibt, (f) das Bild (23b) des Bodens (3) des probenenthaltenden Töpfchens (1) wird mittels der Helligkeitskorrekturangabe korrigiert, wobei die Lage des Bildes (23b) am Boden (3) ermittelt und der zu dieser Lage gehörende Wert der Helligkeitskorrekturangabe verwendet wird. |
