发明名称 METHOD OF FORMING SILICON OXIDE FILM
摘要 <p>(과제) 표면 러프니스가 양호한 실리콘 산화물막을 얻는 것이 가능한 실리콘 산화물막의 성막 방법을 제공하는 것이다. (해결 수단) 하지(1) 상에 시드층(2)을 형성하는 공정과, 시드층(2) 상에 실리콘막(3)을 형성하는 공정과, 실리콘막(3) 및 시드층(2)을 산화시켜, 하지(1) 상에 실리콘 산화물막(4)을 형성하는 공정을 구비한다.</p>
申请公布号 KR101569377(B1) 申请公布日期 2015.11.16
申请号 KR20120118473 申请日期 2012.10.24
申请人 도쿄엘렉트론가부시키가이샤 发明人 무라카미 히로키;이케우치 토시유키;사토 준;모로즈미 유이치로;하세베 카즈히데
分类号 H01L21/316 主分类号 H01L21/316
代理机构 代理人
主权项
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