发明名称 一种光电化学刻蚀设备
摘要 本实用新型公开了一种光电化学刻蚀设备,用于制备高深宽比硅微纳结构的加工。由左右两个腔体合并组成的腔室,在左腔体上固定有作为阳极的硅片,硅片的背后有铜圈,所述的铜圈中间设有通孔,通孔内放置光源;所述的右腔体中设有作为阴极的铂金片,并通过实心铜圈固定于硅片相对的位置,还包括用于连接左右两个腔体的主腔体上。在外部设备——蠕动泵,电源,灯源的配合下,将硅片作为阳极,铂金片作为阴极置于HF中,即可制得高深宽比较高的多孔硅。是一种无需掩膜,价格低廉,操作简单的光电化学刻蚀设备。
申请公布号 CN204727978U 申请公布日期 2015.10.28
申请号 CN201520448337.9 申请日期 2015.06.26
申请人 南开大学 发明人 孙广毅;蒋秀芬;赵新
分类号 C25F3/12(2006.01)I;C25F7/00(2006.01)I 主分类号 C25F3/12(2006.01)I
代理机构 天津佳盟知识产权代理有限公司 12002 代理人 刘书元
主权项 一种光电化学刻蚀设备,其特征在于:包括左腔体,作为阳极的硅片固定在左腔体上;包括空心铜圈,设置在硅片的背后,所述的空心铜圈中间设有通孔;包括光源,所述的光源放置在空心铜圈的通孔内;包括右腔体,右腔体中设有作为阴极的铂金片;包括实心铜圈,用于将铂金片固定于硅片相对的位置;包括主腔体,用于连接左腔体和右腔体,并使两个腔体合并组成一个刻蚀腔腔室;所述的腔室内装满刻蚀液氢氟酸。
地址 300071 天津市南开区卫津路94号