发明名称 一种低温生长变组分镓砷锑薄膜的液相外延方法
摘要 本发明公开了一种低温生长变组分镓砷锑薄膜的液相外延方法。本方法具体步骤如下:第一步,熔源的称量,第二步,熔源的两次高温熔融,第三步:生长。本方法特征在于Sb组分并非按照相图配制。本发明的优点在于:可以在低温下获得GaAs<sub>1-x</sub>Sb<sub>x</sub>变组分薄膜,且制备工艺简单,工艺成本低,晶体质量高。
申请公布号 CN105002554A 申请公布日期 2015.10.28
申请号 CN201510295832.5 申请日期 2015.06.02
申请人 中国科学院上海技术物理研究所 发明人 王洋;胡淑红;吕英飞;戴宁
分类号 C30B19/02(2006.01)I;C30B29/40(2006.01)I;C30B29/64(2006.01)I 主分类号 C30B19/02(2006.01)I
代理机构 上海新天专利代理有限公司 31213 代理人 郭英
主权项 一种低温生长变组分镓砷锑薄膜的液相外延分方法,其特征在于方法步骤如下:第一步,熔源的称量,按照相图配制550℃相同总质量的GaAs熔源组分三份,然后根据掺杂原理分别称量GaAs熔源总质量的0.5%、1%、1.5%的Sb组分;第二步,熔源的两次高温熔融,第一次高温熔源将三份GaAs熔源在650℃熔融3h,然后降温至550℃推舟使熔源与GaAs单晶衬底接触以获得稳定组分的熔源,接着再次升温到650℃恒温1h得到混合均匀的初始熔源材料;第二次高温熔融,将三份纯度为7N的Sb粉末分别加入三份初始熔源并在650℃下恒温2小时,得到生长熔源;第三步:生长工艺如下,将在650℃下恒温2小时的生长熔源以10℃/min的降温速率降温至生长温度,生长温度随Sb组分的不同要有所调节,恒温15分钟,然后以0.2℃/min的降温速率降温15min,接着推动滑舟使熔源与GaAs衬底接触,进行GaAs<sub>1‑x</sub>Sb<sub>x</sub>薄膜的生长5min,最后推开熔源获得GaAs<sub>1‑x</sub>Sb<sub>x</sub>薄膜。
地址 200083 上海市虹口区玉田路500号