发明名称 记忆体元件及其形成方法与半导体元件的形成方法;MEMORY DEVICE AND METHODS OF FORMING MEMORY DEVICE AND SEMICONDUCTOR DEVICE
摘要 提供一种记忆体元件的形成方法。于基底上形成第一导体层。图案化所述第一导体层,以于所述第一导体层中形成至少二沟渠,其中所述沟渠沿第一方向延伸。于所述沟渠的表面上以及所述第一导体层的表面上形成绝缘层。于所述绝缘层上形成第二导体层。图案化所述第二导体层,以形成至少一控制闸极,所述控制闸极沿第二方向延伸,所述第二方向不同于所述第一方向。图案化所述第一导体层,以形成至少一浮置闸极以及选择闸极,所述至少一浮置闸极位于所述控制闸极下方,且所述选择闸极邻近所述控制闸极。
申请公布号 TW201528368 申请公布日期 2015.07.16
申请号 TW103131325 申请日期 2014.09.11
申请人 力旺电子股份有限公司 EMEMORY TECHNOLOGY INC. 发明人 徐德训 HSU, TE HSUN
分类号 H01L21/31(2006.01);H01L21/8239(2006.01);H01L29/788(2006.01) 主分类号 H01L21/31(2006.01)
代理机构 代理人 叶璟宗詹东颖刘亚君
主权项
地址 新竹市新竹科学园区园区二路47号305室 TW