发明名称 |
记忆体元件及其形成方法与半导体元件的形成方法;MEMORY DEVICE AND METHODS OF FORMING MEMORY DEVICE AND SEMICONDUCTOR DEVICE |
摘要 |
提供一种记忆体元件的形成方法。于基底上形成第一导体层。图案化所述第一导体层,以于所述第一导体层中形成至少二沟渠,其中所述沟渠沿第一方向延伸。于所述沟渠的表面上以及所述第一导体层的表面上形成绝缘层。于所述绝缘层上形成第二导体层。图案化所述第二导体层,以形成至少一控制闸极,所述控制闸极沿第二方向延伸,所述第二方向不同于所述第一方向。图案化所述第一导体层,以形成至少一浮置闸极以及选择闸极,所述至少一浮置闸极位于所述控制闸极下方,且所述选择闸极邻近所述控制闸极。 |
申请公布号 |
TW201528368 |
申请公布日期 |
2015.07.16 |
申请号 |
TW103131325 |
申请日期 |
2014.09.11 |
申请人 |
力旺电子股份有限公司 EMEMORY TECHNOLOGY INC. |
发明人 |
徐德训 HSU, TE HSUN |
分类号 |
H01L21/31(2006.01);H01L21/8239(2006.01);H01L29/788(2006.01) |
主分类号 |
H01L21/31(2006.01) |
代理机构 |
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代理人 |
叶璟宗詹东颖刘亚君 |
主权项 |
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地址 |
新竹市新竹科学园区园区二路47号305室 TW |