发明名称 半導体装置
摘要 <p>メモリコントローラ(100)は、位相検出部(121)と、生成部(122)と、遅延制御部(123)と、を有している。位相検出部(121)は、受信した外部クロック信号と内部クロック信号との位相差に基づき、読み出し動作期間中連続的に第1の遅延量を検出する。生成部(122)は、1データ信号分の読み出し時間以上で、読み出し動作開始から受信したデータ信号を出力するまでの一定時間未満の有効期間であり、読み出し動作開始時に有効期間が開始する制御信号を、第1の遅延量との和が一定時間となる第2の遅延量分遅延させることで、あらたな制御信号を生成する。あらたな制御信号は、DL2 DLIR INH信号、PHSEL INH信号、LC INH信号である。遅延制御部(123)は、生成部(122)によって生成された制御信号の有効期間の開始時に位相検出部(121)により検出された第1の遅延量分、データ信号を遅延させる。</p>
申请公布号 JPWO2013042233(A1) 申请公布日期 2015.03.26
申请号 JP20130534536 申请日期 2011.09.21
申请人 发明人
分类号 G06F12/00 主分类号 G06F12/00
代理机构 代理人
主权项
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