发明名称 対応点探索装置、および距離測定装置
摘要 <p>複数の画像の間で高精度かつ高速に対応点を探索することが出来る技術、ならびに撮像装置から被写体までの距離を高精度かつ高速に算出することができる技術を提供するために、対応点探索装置が、情報取得部と探索部と探索範囲決定部とを備える。情報取得部は、光学系および撮像部の少なくとも一方を含む可動部が移動して被写体に合焦している合焦状態にある第1撮像装置によって該被写体が撮像されて得られる第1画像と、第1撮像装置とは異なる視点から第2撮像装置によって該被写体が撮像されて得られる第2画像と、第1撮像装置が合焦状態にある際における可動部の位置情報とを取得する。探索部は、第1および第2画像のうちの一方画像と他方画像とについて、一方画像内の基準点に対応する対応点を他方画像において探索する。探索範囲決定部は、他方画像のうちの探索部によって対応点が探索される探索範囲を、位置情報に基づいて決定する。</p>
申请公布号 JPWO2012176556(A1) 申请公布日期 2015.02.23
申请号 JP20130521500 申请日期 2012.05.10
申请人 发明人
分类号 G01B11/00;G01C3/06;G06T1/00;H04N5/225 主分类号 G01B11/00
代理机构 代理人
主权项
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