发明名称 暴露高能(001)晶面六方相CdS纳米片的制备方法
摘要 本发明公开了一种暴露高能(001)晶面六方相CdS纳米片的制备方法,采用简单的回流法,制备成暴露高能(001)晶面小尺寸六方相CdS超薄纳米片,CdS纳米片对角线尺寸为5~50nm、厚度为0.59~10nm。本发明操作简单,成本低,重复性好,所制备的暴露高能(001)晶面六方相CdS纳米片有望在光催化、太阳能电池、超离子导体、锂离子电池和超级电容器等应用中体现增强的光电性能。
申请公布号 CN104085915A 申请公布日期 2014.10.08
申请号 CN201410282977.7 申请日期 2014.06.23
申请人 陕西师范大学 发明人 杨合情;王姣;金荣;田志霞;贾文静;马斓
分类号 C01G11/02(2006.01)I;B82Y30/00(2011.01)I 主分类号 C01G11/02(2006.01)I
代理机构 西安永生专利代理有限责任公司 61201 代理人 高雪霞
主权项 一种暴露高能(001)晶面六方相CdS纳米片的制备方法,其特征在于:将CdCl<sub>2</sub>·2.5H<sub>2</sub>O、十二硫醇加入油胺中,搅拌,在惰性气氛下升温至220~350℃,恒温搅拌回流1~10小时,所述的CdCl<sub>2</sub>·2.5H<sub>2</sub>O与十二硫醇的摩尔比为1:5~200,油胺与十二硫醇的体积比为1~10:1,制备成暴露高能(001)晶面六方相CdS纳米片。
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