发明名称 |
显示装置的检查方法和检查装置、显示装置用基板和显示装置 |
摘要 |
提供一种显示装置的检查方法和检查装置、显示装置用基板和显示装置,上述显示装置的检查方法和检查装置能够高效且高精度地检查具有非矩形显示区域的显示装置。用具有非矩形显示区域的显示装置的设计信息,指定检查区域及分析区域。并且用设计信息求出寄生电容等,对检查数据或进行优劣判断的阈值进行加权运算而进行检查。 |
申请公布号 |
CN101577079B |
申请公布日期 |
2014.05.21 |
申请号 |
CN200910139189.1 |
申请日期 |
2009.05.11 |
申请人 |
NLT科技股份有限公司 |
发明人 |
高取宪一 |
分类号 |
G09G3/00(2006.01)I;G01R31/305(2006.01)I |
主分类号 |
G09G3/00(2006.01)I |
代理机构 |
中原信达知识产权代理有限责任公司 11219 |
代理人 |
孙志湧;李亚 |
主权项 |
一种检查方法,检查具有多个像素的显示装置的显示装置用基板,其特征在于,所述显示装置在非矩形显示区域内具有由矩形的像素构成的中心部和在由该矩形的像素构成的中心部的周围排列的非矩形的像素,所述检查方法具有以下步骤:输入上述显示装置的设计信息;根据上述显示装置的设计信息,在上述显示装置用基板中设定检查对象区域和分析对象区域中的至少一方;基于上述设计信息,生成适用于检查所产生的检测结果的加权信息;对于对检查对象进行检查所产生的检测结果和上述加权信息进行运算;以及根据上述运算的加权检测结果和预定的阈值,判定上述检查对象的优劣。 |
地址 |
日本神奈川县川崎市 |