发明名称 |
MS/MS型电感耦合等离子体质谱仪 |
摘要 |
本实用新型涉及MS/MS型电感耦合等离子体质谱仪(ICP-MS/MS)中的新的差分抽气构成。装置(10)包括:将包含被离子化的样品的等离子体引入到真空中的第一真空室(11)、包含从第一真空室所出射的离子中提取并引导离子束的单元(18)的第二真空室(12)、具有第一离子光学分离单元(20)的第三真空室(13)、具有反应气体被导入的池(25)的第四真空室(14)、具有第二离子光学分离单元(29)和检测器(30)的第五真空室(15),并且,第二真空室(12)和第三真空室(13)独立地被排气。 |
申请公布号 |
CN203339108U |
申请公布日期 |
2013.12.11 |
申请号 |
CN201320004928.8 |
申请日期 |
2013.01.06 |
申请人 |
安捷伦科技有限公司 |
发明人 |
山田宪幸;桑原健雄;北本淳 |
分类号 |
H01J49/42(2006.01)I;H01J49/24(2006.01)I |
主分类号 |
H01J49/42(2006.01)I |
代理机构 |
北京东方亿思知识产权代理有限责任公司 11258 |
代理人 |
柳春雷 |
主权项 |
一种MS/MS型电感耦合等离子体质谱仪,所述质谱仪包括: 第一真空室,所述第一真空室将包含被离子化的样品在内的等离子体引入到真空中; 第二真空室,所述第二真空室与所述第一真空室连接,并且包括从所述第一真空室所出射的离子中提取并引导离子束的单元; 第三真空室,所述第三真空室与所述第二真空室连接,并且具有第一离子光学分离单元; 第四真空室,所述第四真空室与所述第三真空室连接,并具有反应气体被导入的池;以及 第五真空室,所述第五真空室与所述第四真空室连接,并具有第二离子光学分离单元以及检测器, 其中,所述第二真空室和所述第三真空室独立地被排气。 |
地址 |
美国加利福尼亚州 |