发明名称 УСТРОЙСТВО ДЛЯ КОНТРОЛЯ КАЧЕСТВА ПОВЕРХНОСТИ ПОЛУПРОВОДНИКОВЫХ ПОДЛОЖЕК
摘要 Устройство для контроля качества поверхности полупроводниковых подложек, содержащее смонтированный на станине предметный столик, расположенные на одной оптической оси лазер, коллиматор и полупрозрачное зеркало, видикон и видеоконтрольное устройство, отличающееся тем, что, с целью повышения производительности и улучшения качества контроля, оно дополнительно снабжено механизмом разделения потоков, состоящим из штыревых фиксаторов, пневматического сопла и светочувствительных датчиков положения полупроводниковой подложки, блоком импульсов запуска, генератором развертки, ключом, видеоусилителем, первым компаратором, задатчиком уровня срабатывания первого компаратора, первым счетным устройством, первым генератором прямоугольных импульсов, счетным устройством числа строк, вторым счетным устройством, вторым компаратором, задатчиком уровня срабатывания второго компаратора, вторым генератором прямоугольных импульсов, первым блоком цифровой индикации, устройством сравнения, цифровым задатчиком, вторым блоком цифровой индикации, устройством сравнения, первым усилителем мощности, первым исполнительным устройством, вторым усилителем мощности, вторым исполнительным устройством, при этом светочувствительные датчики положения полупроводниковой подложки соединены с входами блока импульсов запуска, выход которого соединен с лазером, первым входом генератора развертки и первым входом ключа, а к выходу видикона подключен видеоусилитель, выход которого соединен с первым входом первого компаратора, второй вход которого соединен с выходом задатчика уровня срабатывания первого компаратора, выход первого �
申请公布号 RU1105022(C) 申请公布日期 2013.09.27
申请号 SU19833553697 申请日期 1983.02.11
申请人 Физико-технический институт АН БССР 发明人 Гурский Л.И.;Сигалов Б.Л.;Покрышкин А.И.;Кутилов Е.В.
分类号 G01N21/88;G01N21/47 主分类号 G01N21/88
代理机构 代理人
主权项
地址
您可能感兴趣的专利