基于IEEE 1500标准兼容SRAM/ROM的MBIST控制器结构系统

摘要

本发明公开了一种基于IEEE1500且兼容嵌入式SRAM和ROM存储器测试的测试结构及测试方法，该测试结构结合了嵌入式核测试标准IEEE1500和内建自测试（BIST）的方法，该测试结构支持对多个不同种类的嵌入式SRAM和ROM进行内建自测试。该结构由嵌入式SRAM和ROM的测试壳封装与MBIST控制器两部分构成。测试封装壳解决了嵌入式SRAM和ROM的测试访问、测试隔离和测试的控制问题。MBIST控制器根据测试算法生成SRAM测试所需的测试激励数据、控制封装壳Wrapper、进行响应分析、输出测试结果，通过MISR来完成对ROM中数据的数据压缩操作。应用该测试结构及测试方法，能够检测出嵌入式SRAM和ROM存储器存在故障，有利于嵌入式SRAM和ROM存储器的测试复用，可以有效的提高SoC的集成效率，同时减少MBIST系统的硬件消耗。

主权项

基于IEEE 1500标准兼容SRAM/ROM的MBIST控制器结构系统，包括嵌入到系统芯片内部的MBIST控制器，其特征在于：设置March算法状态机和多输入线性反馈移位寄存器MISR的MBIST控制器分别连接着外设的测试系统接口、围绕被测嵌入式SRAM和ROM的基于IEEE 1500标准的测试壳Wrapper和响应分析器，基于IEEE 1500标准的测试壳Wrapper与响应分析器连接，基于IEEE 1500标准的测试壳Wrapper和响应分析器均嵌入到系统芯片内部。