发明名称 一种去除晶体硅片金属离子污染的清洗液及其清洗工艺
摘要 本发明涉及晶体硅太阳电池去金属离子清洗技术领域,尤其是一种去除晶体硅片金属离子污染的清洗液及其清洗工艺,由螯合剂1.0×10-5mol/L-1.0×10-3mol/L,使清洗液pH值范围在2-4的酸,及去离子水组成,第一步:使用HF溶液、HF+H2O2+H2O溶液或BOE+H2O2+H2O溶液中的一种在室温下清洗硅片1-5min;第二步:使用去离子水清洗硅片;第三步:室温下使用上述清洗液清洗2-10min;第四步:使用去离子水冲洗硅片,将残留在硅片表面的酸清洗掉。本发明配方简单,成本低廉,去除晶体硅片金属离子污染效果好,清洗工艺在室温下进行,生产成本低,操作简单。
申请公布号 CN103013711A 申请公布日期 2013.04.03
申请号 CN201310013963.0 申请日期 2013.01.15
申请人 常州比太科技有限公司 发明人 上官泉元;解观超;刘金浩;朱广东;潘景伟
分类号 C11D7/32(2006.01)I;C11D7/60(2006.01)I;B08B3/08(2006.01)I 主分类号 C11D7/32(2006.01)I
代理机构 常州市夏成专利事务所(普通合伙) 32233 代理人 沈毅
主权项 一种去除晶体硅片金属离子污染的清洗液,其特征是,由以下组分组成:螯合剂1.0×10‑5mol/L ‑1.0×10‑3mol/L,使清洗液PH值范围在2‑4的酸,及去离子水。
地址 213000 江苏省常州市武进高新技术产业开发区凤翔路7号