| 发明名称 | 光盘的检查方法以及光盘介质 | ||
| 摘要 | 本发明的光盘的检查方法包含以下步骤：在光盘的第1半径位置、比上述第1半径位置靠内周侧的第2半径位置、和比上述第2半径位置靠内周侧的第3半径位置处，分别以记录速度V1记录数据，并再现已记录的数据，由此来分别测定再现信号的信号品质指标值A、B、C的步骤；在上述第1半径位置和上述第2半径位置处，分别以大于V1的记录速度V2记录数据，并再现已记录的数据，由此来分别测定再现信号的信号品质指标值D、E的步骤；以及根据上述信号品质指标值B以及E的不同来补正上述信号品质指标值C，由此来算出在上述第3半径位置处以上述速度V2记录数据并再现已记录的数据时的信号品质指标值F的步骤。 | ||
| 申请公布号 | CN101681652B | 申请公布日期 | 2012.06.27 |
| 申请号 | CN200980000222.0 | 申请日期 | 2009.02.10 |
| 申请人 | 松下电器产业株式会社 | 发明人 | 古宫成;中村敦史 |
| 分类号 | G11B7/26(2006.01)I;G11B7/004(2006.01)I | 主分类号 | G11B7/26(2006.01)I |
| 代理机构 | 中科专利商标代理有限责任公司 11021 | 代理人 | 汪惠民 |
| 主权项 | 一种光盘的检查方法，其包含以下步骤：在光盘的第1半径位置、比上述第1半径位置靠内周侧的第2半径位置、和比上述第2半径位置靠内周侧的第3半径位置处，分别以记录速度V1记录数据，并再现已记录的数据，由此来分别测定再现信号的信号品质指标值A、B、C的步骤；在上述第1半径位置和上述第2半径位置处，分别以大于V1的记录速度V2记录数据，并再现已记录的数据，由此来分别测定再现信号的信号品质指标值D、E的步骤；以及根据上述信号品质指标值B以及E的不同来补正上述信号品质指标值C，由此来算出在上述第3半径位置处以上述速度V2记录数据并再现已记录的数据时的信号品质指标值F的步骤。 | ||
| 地址 | 日本大阪府 | ||