发明名称 PCB板上定位标记坐标的获取方法、装置及贴片设备
摘要 本发明适用于表面组装技术领域,提供了一种PCB板定位标记坐标的获取方法、装置及贴片设备,所述方法包括:通过影像采集系统对待测PCB板进行拍摄,得到待测PCB板的拍摄图像;测量待测PCB板的拍摄图像上的横向和纵向总像素值,并根据所述横向和纵向总像素值以及预先采集的标定板实际横向和纵向物理坐标长度,计算得到待测PCB板的拍摄图像上的每个特征像素点的测量物理坐标;根据所述测量物理坐标和预先计算得到的每个像素值的补偿物理坐标,计算得到所述拍摄图像上的特征像素点的实际物理坐标位置。在本发明,通过PCB板的拍摄图像来计算PCB板上的特征像素点的实际坐标位置,生产效率高,而且不需要投入机械设备,设备损耗小。
申请公布号 CN102506705A 申请公布日期 2012.06.20
申请号 CN201110315244.5 申请日期 2011.10.17
申请人 罗艺 发明人 罗艺
分类号 G01B11/00(2006.01)I;H05K3/30(2006.01)I 主分类号 G01B11/00(2006.01)I
代理机构 代理人
主权项 一种PCB板上定位标记坐标的获取方法,其特征在于,所述方法包括:通过影像采集系统对待测PCB板进行拍摄,得到所述待测PCB板的拍摄图像;测量所述待测PCB板的拍摄图像上的横向和纵向总像素值,并根据所述横向和纵向总像素值以及预先采集的标定板实际横向和纵向物理坐标长度,计算得到所述待测PCB板的拍摄图像上的每个特征像素点的测量物理坐标,所述特征像素点的测量坐标的计算公式如下:测量X坐标值=(标定板实际横向物理坐标长度*测量X坐标像素值)/图像横向总像素值测量Y坐标值=(标定板实际纵向物理坐标长度*测量Y坐标像素值)/图像纵向总像素值所述测量X坐标值和测量Y坐标值是所述待测PCB板的拍摄图像上每个特征像素点的测量物理坐标,所述测量X坐标像素值和测量Y坐标像素值是所述待测PCB板的拍摄图像上每个特征像素点的像素坐标,所述图像横向总像素值和图像纵向总像素值是所述待测PCB板的拍摄图像上像素坐标的最大值;根据所述测量物理坐标和预先计算得到的每个像素值的补偿物理坐标,计算得到所述拍摄图像上的特征像素点的实际物理坐标位置。
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