发明名称 | 一种互连线平均失效时间计算方法及系统 | ||
摘要 | 本发明实施例公开了一种互连线平均失效时间计算方法及系统。所述方法包括:确定目标电路版图中目标互连线的实际区域横截面的面积,所述实际区域为所述目标互连线原始区域中损失区域以外的区域;获取经过所述目标互连线的电流数据;以所述电流数据除以所述实际区域横截面的面积,得到所述目标互连线的实际电流密度;将所述目标互连线的实际电流密度代入平均失效时间函数,获得所述目标互连线的平均失效时间。本方案中,充分考虑了CMP处理后所产生的损失区域带来的误差影响,在计算互连线的MTTF时,所确定的电流密度为通过目标互连线实际区域的电流密度,进而进行后续MTTF计算,因此,可以有效计算CMP处理后互连线的MTTF。 | ||
申请公布号 | CN102508953A | 申请公布日期 | 2012.06.20 |
申请号 | CN201110319494.6 | 申请日期 | 2011.10.19 |
申请人 | 中国科学院微电子研究所 | 发明人 | 马天宇;陈岚;阮文彪 |
分类号 | G06F17/50(2006.01)I | 主分类号 | G06F17/50(2006.01)I |
代理机构 | 北京集佳知识产权代理有限公司 11227 | 代理人 | 逯长明 |
主权项 | 一种互连线平均失效时间计算方法,其特征在于,包括:确定目标电路版图中目标互连线的实际区域横截面的面积,所述实际区域为所述目标互连线原始区域中损失区域以外的区域;获取经过所述目标互连线的电流数据;以所述电流数据除以所述实际区域横截面的面积,得到所述目标互连线的实际电流密度;将所述目标互连线的实际电流密度代入平均失效时间函数,获得所述目标互连线的平均失效时间。 | ||
地址 | 100029 北京市朝阳区北土城西路3号 |