| 发明名称 | 一种光源老化寿命试验系统 | ||
| 摘要 | 本实用新型公开了一种光源老化寿命试验系统，包括温控箱、仪表箱和工控机箱，温控箱设置在仪表箱和工控机箱之间，其内部设置装夹被测光源的夹具和采集被测光源的光辐射信号的取样装置。本光源老化寿命试验系统可实现被测光源的光色热电等参数的测量，测量参数齐全，且配置灵活，被测光源的工作条件和数量可调控，可以满足多种不同测量场合的要求，适用范围广，性价比高。 | ||
| 申请公布号 | CN202255835U | 申请公布日期 | 2012.05.30 |
| 申请号 | CN201120313585.4 | 申请日期 | 2011.08.25 |
| 申请人 | 杭州远方光电信息股份有限公司 | 发明人 | 潘建根 |
| 分类号 | G01M11/02(2006.01)I;G01R31/44(2006.01)I | 主分类号 | G01M11/02(2006.01)I |
| 代理机构 | 代理人 | ||
| 主权项 | 一种光源老化寿命试验系统，其特征在于，包括温控箱(1)、仪表箱(2)、工控机(3)和工控机箱(4)，所述的温控箱(1)设置在仪表箱(2)和工控机箱(4)之间，所述的工控机(3)设置在工控机箱(4)的内部，所述的工控机(3)与显示屏、键盘、鼠标电连接，所述的显示屏、键盘、鼠标设置于温控箱(1)的侧旁，温控箱(1)内设置装夹被测光源(5)的夹具(7)和采集被测光源(5)的光辐射信号的取样装置(6)。 | ||
| 地址 | 310053 浙江省杭州市滨江区滨康路669号 | ||