一种X射线衍射原位测试方法及样品架

摘要

本发明涉及测试方法及测试设备领域，尤其涉及一种X射线衍射原位测试的样品架及其测试方法，其包括带有样品槽的样品架基架、定位片、充放电测试通道及导线，所述定位片套接在所述样品台基架上，所述充放电测试通道铆接在所述样品台基架上，所述导线焊接在所述充放电测试通道上。本发明不需对X射线粉末衍射仪本身加以任何结构改造或功能组件添加，使用环保无毒、容易取得、加工简单的高分子膜材料作为X射线的透过窗口，同时作为样品电芯的封装材料，即可实现在制备一个X射线衍射原位测试用样品电芯的基础上，实现对充放电过程中不同电压下以及循环不同次数过程中阴极活性材料晶体结构变化和阳极活性材料晶体结构变化的观察与监控。

主权项

一种X射线衍射原位测试用样品架，其特征在于：其包括带有样品槽(2)的样品台基架(1)、定位片(3)、充放电测试通道(4)及导出部(5)，所述定位片(3)套接在所述基架(1)上，所述充放电测试通道(4)连接在所述基架(1)上，所述导出部(5)电连接在所述充放电测试通道(4)上。