发明名称 电光学装置、其检查方法以及电子设备
摘要 本发明提供一种电光学装置。各单位电路(U)包括OLED元件(16)和控制其动作的控制电路(15)。在检查端子(TPa1)输入为了试验性地驱动OLED元件(16)的检查信号。多个单位电路(U)之中,位于有效区域(A)的边角的检查单位电路(Ut)连接了开关元件(41)。此开关元件(41)使检查单位电路(Ut)的OLED元件(16)和检查端子(TPa1)电绝缘的关断状态切换为检查单位电路(Ut)的OLED元件(16)和检查端子(TPa1)电导通的导通状态。由此,能有效地检查包括电光学装置和控制电路的多个单位电路。
申请公布号 CN101271670B 申请公布日期 2011.11.23
申请号 CN200810099417.2 申请日期 2005.05.19
申请人 精工爱普生株式会社 发明人 今村阳一
分类号 G09G3/32(2006.01)I;G09G3/00(2006.01)I;H05B33/08(2006.01)I;H05B37/03(2006.01)I 主分类号 G09G3/32(2006.01)I
代理机构 中科专利商标代理有限责任公司 11021 代理人 李香兰
主权项 一种电光学装置,其特征在于,具备:分别具有能够发光或者受光的电光学元件和控制该电光学元件的控制电路的多个单位电路;被输入用于驱动所述电光学元件的检查信号的检查端子;和检查信号提供元件,其被设置在检查单位电路的电光学元件与所述检查端子之间,取得第1状态和第2状态,其中所述检查单位电路是所述多个单位电路之中作为检查对象而被选择的单位电路,第1状态是使所述检查单位电路的电光学元件与所述检查端子电绝缘的状态,第2状态是使所述检查单位电路的所述电光学元件与所述检查端子电导通的状态,所述检查信号提供元件,在显示模式采用所述第1状态,在检查模式采用所述第2状态。
地址 日本东京
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