发明名称 可变结构的气体绝缘组合电器局部放电实验装置及其方法
摘要 一种可变结构的气体绝缘组合电器局部放电实验装置及其方法,属于电气设备绝缘在线检测技术领域。本装置主要包括:GIS模拟元件、数字存储示波器和信号发生器等。本方法是利用本装置,先进行加压实验采集超高频PD信号,后通过注入信号实验,并通过程序对此超高频PD信号采集和校正后,得到真实的超高频PD信号波形。本装置能模拟真实GIS设备中的“T”形、“L”形、“一”形结构。本方法能对GIS的“T”形或“L”形或“一”形结构进行1~4中绝缘缺陷模型进行实验,实验真实、准确、范围广。本发明可广泛用于教学实践和科研院所、设备制造厂家对GIS设备绝缘状态进行在线监测的实验研究,检测的PD信号可供理论分析和应用研究。
申请公布号 CN101509952B 申请公布日期 2011.02.16
申请号 CN200910103413.1 申请日期 2009.03.20
申请人 重庆大学 发明人 唐炬;谢颜斌;张晓星;姚陈果;杜林;陈伟根;孙才新;王有元;李剑
分类号 G01R31/12(2006.01)I 主分类号 G01R31/12(2006.01)I
代理机构 重庆大学专利中心 50201 代理人 胡正顺
主权项 一种可变结构的气体绝缘组合电器局部放电实验方法,其特征在于具体步骤如下:(1)实验的准备首先按照实验要求,对可变结构的气体绝缘组合电器局部放电实验装置中的GIS模拟元件(27),每一次选用“T”形或“L”形结构的GIS模拟元件(27)进行连接,对每个GIS模拟元件(27),又根据实验的要求,放置金属突出物缺陷模型、绝缘子表面固定金属微粒缺陷模模型、自由金属微粒缺陷模型、气隙缺陷模型中的1~4种绝缘缺陷模型,构成加电压实验的信号发生单元;对于“T”形结构的GIS模拟元件(27),有两种实验接线方法,其一是将信号发生器(28),通过低损耗电缆(26),与GIS模拟元件(27)中左段一个内置圆环超高频传感器(6)的输入端相连,构成注入信号实验的超高频信号发生单元,上段和右段的两个内置圆环超高频传感器(6)的输出端,分别通过低损耗电缆(26)与微带线滤波放大器(8)相连,然后再经过超高频智能多路开关(9)及数字存储示波器(10)与微型计算机(11)相连,构成超高频PD信号的检测系统,再用真空泵对GIS模拟元件(27)抽真空,并静置10~12小时后,通过观察真空压力表及进气阀(21)数值检查GIS模拟元件(27)密封性能良好,最后通过真空压力表及进气阀(21)对GIS模拟元件(27)充入SF6气体,直至气压达到实验气压,即0.4MPa,再静置10~12小时,通过观察真空压力表及进气阀(21)数值检查GIS模拟元件(27)密封性能良好;其二是将信号发生器(28),通过低损耗电缆(26),分别与GIS模拟元件(27)中左段和上段的两个内置圆环超高频传感器(6)的输入端相连,构成注入信号实验的超高频信号发生单元,右段的一个内置圆环超高频传感器(6)的输出端,通过低损耗电缆(26)与微带线滤波放大器(8)相连,然后再经过超高频智能多路开关(9)及数字存储示波器(10)与微型计算机(11)相连,构成超高频PD信号的检测系统,再用真空泵对GIS模拟元件(27)抽真空,并静置10~12小时后,通过观察真空压力表及进气阀(21)数值检查GIS模拟元件(27)密封性能良好,最后通过真空压力表及进气阀(21)对GIS模拟元件(27)充入SF6气体,直至气压达到实验气压,即0.4MPa,再静置10~12小时,通过观察真空压力表及进气阀(21)数值检查GIS模拟元件(27)密封性能良好;对于“L”形结构的GIS模拟元件(27),将信号发生器(28),通过低损耗电缆(26),与GIS模拟元件(27)中左段的一个内置圆环超高频传感器(6)的输入端相连,构成注入信号实验的超高频信号发生单元,上段的一个内置圆环超高频传感器(6)的输出端,先通过低损耗电缆(26)与微带线滤波放大器(8)相连,然后再经过超高频智能多路开关(9)及数字存储示波器(10)与微型计算机(11)相连,构成超高频PD信号的检测系统,再用真空泵对GIS模拟元件(27)抽真空,并静置10~12小时后,通过观察真空压力表及进气阀(21)数值检查GIS模拟元件(27)密封性能良好,最后通过真空压力表及进气阀(21)对GIS模拟元件(27)充入SF6气体,直至气压达到实验气压,即0.4MPa,再静置10~12小时,通过观察真空压力表及进气阀(21)数值检查GIS模拟元件(27)密封性能良好;(2)采集超高频PD信号第(1)步完成后,对第(1)步准备完毕的实验装置进行加压实验:首先调节感应调压器(1),缓慢升高实验电压,当出现局部放电脉冲时,记录下此时的实验电压为Ust,然后再调节感应调压器(1),继续缓慢升高实验电压,直至所加电压为起始放电电压Ust的1.2~1.5倍为止,最后通过数字存储示波器(10)采集由内置圆环超高频传感器(6)检测到的PD信号波形,数字存储示波器(10)的采样频率设置为20Gs/s,并采集总长度为500ns的信号,采样点数为10000个,设置触发电平的位置在第5000个采样点处,并设置数字存储示波器(10)为自动采集存储功能,然后,数字存储示波器(10)自动采集并存储1000个信号;(3)注入信号实验第(2)步完成后,首先将第(2)步数字存储示波器(10)存储的1000个信号进行平均,即求其平均值,并进行归一化处理,然后将归一化处理后得到的波形输入微型计算机(11),即为信号A,再进行注入信号实验:首先调节感应调压器(1),缓慢降低实验电压至0,观察数字存储示波器(10)不再检测到局部放电脉冲,此时所加缺陷模型不再发生局部放电,然后通过注入信号实验程序,先根据加压实验中放置的绝缘缺陷模型类型,手动选择预先存储在信号发生器(28)内的超高频PD标准波形函数,然后程序自动生成超高频PD标准波形,超高频PD标准波形函数如下式所示: <mrow> <mi>f</mi> <mrow> <mo>(</mo> <mi>x</mi> <mo>)</mo> </mrow> <mo>=</mo> <munderover> <mi>&Sigma;</mi> <mrow> <mi>i</mi> <mo>=</mo> <mn>1</mn> </mrow> <mi>n</mi> </munderover> <msub> <mi>a</mi> <mi>i</mi> </msub> <mo>&CenterDot;</mo> <msup> <mi>e</mi> <mrow> <mo>-</mo> <mfrac> <msup> <mrow> <mo>(</mo> <mi>x</mi> <mo>-</mo> <msub> <mi>b</mi> <mi>i</mi> </msub> <mo>)</mo> </mrow> <mn>2</mn> </msup> <msubsup> <mi>c</mi> <mi>i</mi> <mn>2</mn> </msubsup> </mfrac> </mrow> </msup> </mrow>式中:n表示高斯函数的阶数,即放电脉冲极值的个数,对于不同类型的绝缘缺陷模型,n的取值为3~5;ai表示各个波峰的高度,a1=1×10‑3、a2=0.8×10‑3、a3=0.6×10‑3、a4=0.4×10‑3、a5=0.2×10‑3;bi表示各个波峰所在位置的横坐标x的值,b1=5000,b2=5500,b3=6000,b4=6500,b5=7000;ci表示各个波峰的陡度,c1=10,c2=50,c3=200,c4=500,c5=1000;程序再自动依次调节超高频PD标准波形的幅值和波形参数,即ai和bi及ci,并通过数字存储示波器(10)自动采集此时由内置圆环超高频传感器(6)检测到的PD信号波形,即为信号B,然后判断信号A与信号B的幅值是否相等:当幅值不相等时,返回重新调节信号幅值;当相等时,则计算信号A与信号B的相关系数是否大于等于0.8:当小于0.8时,返回重新调节信号波形参数;当大于等于0.8时,通过信号发生器(28)记录并输出此时的波形至微型计算机(11)存储。
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