发明名称 一种集成电路及方法
摘要 本发明揭露一种集成电路及其方法。本发明公开了多种示范性的实施例。依据一个示范性的实施例,集成电路可包括模式模块,多个数据模块,和复位节点。模式模块可配置为基于接收的数据输入而输出测试模式信号、扫描模式信号和触发信号。多个数据模块的每个数据模块可包括配置成存储数据的寄存器,多个数据模块中的每个数据模块配置为改写存储在它们各自的存储器中的至少一部分数据,以响应接收的改写指令。基于接收的第一复位输入或第二复位输入,复位节点可配置为使寄存器复位。集成电路可配置为进入测试模式、进入扫描模式,并退出测试模式。
申请公布号 CN101847446A 申请公布日期 2010.09.29
申请号 CN200910207872.4 申请日期 2009.10.28
申请人 美国博通公司 发明人 爱玛·格塔夫;洛夫·科萨瑞
分类号 G11C29/12(2006.01)I;G11C29/14(2006.01)I 主分类号 G11C29/12(2006.01)I
代理机构 深圳市顺天达专利商标代理有限公司 44217 代理人 蔡晓红
主权项 一种集成电路,其特征在于,所述的集成电路包括:模式模块,其配置成基于接收的数据输入认定测试模式信号、扫描模式信号和触发信号;多个数据模块,其中每个数据块均包括配置成存储数据的寄存器,多个数据模块中的每个数据模块配置成改写存储在它们各自的寄存器中的至少一部分数据,以响应接收的改写指令;以及复位节点,其配置成基于接收的第一复位输入或第二复位输入使所述的寄存器复位;其中,所述集成电路基于所述的测试模式信号配置成进入测试模式;且基于以下使所述集成电路配置为进入扫描模式:延迟扫描允许指令,当集成电路把改写指令提供给多个数据模块中的每个数据模块以改写它们各自的寄存器之后,所述集成电路提供所述延迟扫描允许指令,所述集成电路基于所述触发信号提供改写指令;扫描模式信号;和当所述复位输入节点接收所述第一复位信号时的测试模式信号;以及其中当所述复位输入节点接收第二复位输入而在所述模式模块不输出所述测试模式信号的情况下,所述集成电路配置为退出测试模式。
地址 美国加州尔湾市奥尔顿公园路16215号92618-7013