发明名称 |
一种化学机械抛光液 |
摘要 |
本发明公开了一种化学机械抛光液,其包含磨料颗粒、氧化剂、水和如式1所示的甲基苯并三氮唑类化合物;其中,R<sub>1</sub>和R<sub>2</sub>独自的为C<sub>1</sub>-C<sub>4</sub>的烷基,式1中苯环上的甲基(CH<sub>3</sub>)为苯环上任意一个氢被取代了的甲基。本发明的化学机械抛光液能够较好的保护铜表面,降低腐蚀缺陷的产生,并且可以有效的减少阻挡层抛光过程中出现的边缘过腐蚀(EOE)现象。<img file="200810201030.3_AB_0.GIF" wi="296" he="110" /> |
申请公布号 |
CN101724347A |
申请公布日期 |
2010.06.09 |
申请号 |
CN200810201030.3 |
申请日期 |
2008.10.10 |
申请人 |
安集微电子(上海)有限公司 |
发明人 |
姚颖;宋伟红 |
分类号 |
C09G1/02(2006.01)I |
主分类号 |
C09G1/02(2006.01)I |
代理机构 |
上海翰鸿律师事务所 31246 |
代理人 |
李佳铭 |
主权项 |
1.一种化学机械抛光液,其特征在于:其包含磨料颗粒、氧化剂、水和如式1所示的甲基苯并三氮唑类化合物;<img file="F2008102010303C0000011.GIF" wi="800" he="309" />式1其中,R<sub>1</sub>和R<sub>2</sub>独自的为C<sub>1</sub>-C<sub>4</sub>的烷基;式1中苯环上的甲基为苯环上任意一个氢被取代了的甲基。 |
地址 |
201203 上海市浦东新区张江高科技园区龙东大道3000号5号楼613-618室 |