发明名称 在半导体装置中形成应变通道的方法
摘要 本发明涉及一种在半导体装置中形成应变通道的方法,包括下列步骤:提供一晶体管,该晶体管包括:一栅极堆叠物,具有设置在一半导体基底上的一栅极;一对源极/漏极区,设置在邻近该栅极堆叠物的对应侧的该半导体基底内;以及一间隔物,对应地设置在该栅极堆叠物的一侧壁上。接着形成一保护层,覆盖该栅极与所述间隔物。接着在所述源极/漏极区内分别形成一凹陷区,其中该凹陷区的一边对准于该间隔物的一外侧边。接着在所述凹陷区内填入一应变诱发材料,以在介于所述源极/漏极区之间的该半导体基底内形成一应变通道区。
申请公布号 CN100552905C 申请公布日期 2009.10.21
申请号 CN200710167196.3 申请日期 2007.11.02
申请人 台湾积体电路制造股份有限公司 发明人 廖先钏;潘国华;陈永修;章勋明;林宜经
分类号 H01L21/336(2006.01)I 主分类号 H01L21/336(2006.01)I
代理机构 隆天国际知识产权代理有限公司 代理人 陈 晨
主权项 1.一种在半导体装置内形成应变通道的方法,包括下列步骤:提供一晶体管,该晶体管包括:一栅极堆叠物,具有设置在一半导体基底上的一栅极;一对源极/漏极区,设置在邻近该栅极堆叠物的对应侧的该半导体基底内;以及一间隔物,对应地设置在该栅极堆叠物的一侧壁上;形成一保护层,覆盖该栅极与该间隔物;在所述源极/漏极区内分别形成一凹陷区,其中该凹陷区的一边对准于该间隔物的一外侧边;以及在所述凹陷区内填入一应变诱发材料,以在介于所述源极/漏极区之间的该半导体基底内形成一应变通道区,其中该应变诱发材料掺杂有相同于该源极/漏极区的导电特性与相同浓度的一掺质。
地址 中国台湾新竹市