| 摘要 |
一种记忆体ＩＣ检测分类机（四），包含设于机台前端之供料匣、空匣、至少一个收料匣及第一载送装置，设于机台后端之至少一个测试装置、第二载送装置及搬移式收料匣，以及设于供、收料匣及测试装置间之第一、二移料装置；该供、收料匣系分别用以承置待／完测之记忆体ＩＣ，测试装置系设有具复数个测试套座之测试电路板，第一移料装置系可于供料匣移载复数个待测之记忆体ＩＣ至第一载送装置，该第一载送装置可预热盛置之待测记忆体ＩＣ，并作错位移动以供测试装置于不同位置取料，于测试装置之各测试套座测试记忆体ＩＣ完毕后，第二载送装置系以ＣＣＤ先行检查各测试套座中是否残留记忆体ＩＣ，而后供承置完测之记忆体ＩＣ，第二移料装置再将第二载送装置上完测之记忆体ＩＣ取出，并依测试结果移载至各收料匣或搬移式收料匣而分类收置；藉此，可同时移载及测试复数个记忆体ＩＣ，而大幅增加检测产能，并有效提升各装置之使用效能。 |
