| 发明名称 | 半导体器件 | ||
| 摘要 | 一种半导体器件，包括输出晶体管、并联连接到输出晶体管的检测晶体管、与检测晶体管串联连接的检测电阻、以及过电流保护晶体管，该输出晶体管用于控制流过第一端和第二端之间的电流，该检测电阻用于检测流过检测晶体管的电流作为检测电压并且其阻值被设置为与第一端和第二端之间的电位差成正比，该过电流保护晶体管用于根据检测电压的增加来降低输出晶体管和检测晶体管的导通电流。 | ||
| 申请公布号 | CN100442193C | 申请公布日期 | 2008.12.10 |
| 申请号 | CN200510052775.4 | 申请日期 | 2005.03.14 |
| 申请人 | 恩益禧电子股份有限公司 | 发明人 | 新井高雄 |
| 分类号 | G05F3/16(2006.01) | 主分类号 | G05F3/16(2006.01) |
| 代理机构 | 中原信达知识产权代理有限责任公司 | 代理人 | 穆德骏;陆弋 |
| 主权项 | 1.一种半导体器件，包括：输出晶体管，用于控制流过第一端和第二端之间的电流；并联连接到输出晶体管的检测晶体管；与检测晶体管串联连接的检测电阻，其中所述检测电阻与检测晶体管串联后与所述输出晶体管并联，所述检测电阻用于检测流过检测晶体管的电流作为检测电压并且其阻值被设置为与第一端和第二端之间的电位差成正比；以及过电流保护晶体管，用于根据检测电压的增加来降低输出晶体管和检测晶体管的导通电流。 | ||
| 地址 | 日本神奈川 | ||