发明名称 三维神经微电极的制作方法
摘要 一种微机电技术领域的三维神经微电极的制作方法,具体如下:以硅片作为衬底,在硅片的正面生长底层SiO<SUB>2</SUB>;在底层SiO<SUB>2</SUB>上形成金属合金层,并刻蚀出金属互连线、压焊点和接触圆点;底层SiO<SUB>2</SUB>正面生长顶层SiO<SUB>2</SUB>,并采用缓冲的HF酸溶液刻蚀顶层SiO<SUB>2</SUB>,暴露出压焊点和接触圆点,并采用光刻胶填充压焊点;在接触圆点的硅平面结构正面旋涂SU-8胶,并通过光刻与刻蚀工艺,形成圆柱形孔,用光刻胶填充压焊点;在圆柱形孔中电镀生长金属,形成金属圆柱,采用显影方式去除压焊点中的光刻胶,暴露压焊点;进行清洗得到三维多通道微电极阵列。本发明降低制作成本,提高微电极的高度可控性及各通道一致性。
申请公布号 CN101168435A 申请公布日期 2008.04.30
申请号 CN200710171235.7 申请日期 2007.11.29
申请人 上海交通大学 发明人 隋晓红;李莹辉;任秋实
分类号 B81C1/00(2006.01) 主分类号 B81C1/00(2006.01)
代理机构 上海交达专利事务所 代理人 王锡麟;王桂忠
主权项 1.一种三维神经微电极的制作方法,其特征在于,包括如下步骤:步骤一,清洗硅片,以硅片作为衬底,采用等离子化学汽相淀积方法在硅片的一面生长底层SiO2;步骤二,在底层SiO2上依次溅射金属钛和金,形成金属合金层,并刻蚀出金属互连线、压焊点和接触圆点;步骤三,在金属合金层上采用等离子化学汽相淀积方法生长顶层SiO2,顶层SiO2绝缘金属合金层,并采用缓冲的HF酸溶液刻蚀顶层SiO2,暴露出压焊点和接触圆点,并采用光刻胶填充压焊点;步骤四,在接触圆点上旋涂SU-8胶,并通过光刻与刻蚀工艺,形成圆柱形孔,圆柱形孔侧壁为SU-8胶,并采用光刻胶填充压焊点;步骤五,在圆柱形孔中电镀生长金属,最终形成金属圆柱,采用显影方式去除压焊点中的光刻胶,暴露出压焊点;步骤六,对上述步骤得到的电极进行清洗,得到三维神经微电极。
地址 200240上海市闵行区东川路800号