发明名称 光头、使用其的光学记录介质记录和/或重放装置及方法
摘要 本发明涉及光头、使用其的光学记录介质记录和/或重放装置及方法,所述光头包括:光源;光聚焦部件;光束分离部件;光检测部件,检测经光束分离部件返回的返回光;以及光耦合效率变化部件和光耦合效率检测部件,光耦合效率变化部件用于改变光耦合效率,光耦合效率是聚焦在光学记录介质上的光量与从光源发射的总光量的比率;以及光耦合效率检测部件用于检测与光耦合效率变化部件所改变的光耦合效率相应的信息,所述光头还包括:前端自动功率控制检测部件,设置在光耦合效率变化部件和光聚焦部件之间,用于监视向着记录表面前进的光束的量,以及其输出用于自动功率控制。因而,有可能通过使用具有较小额定光输出的光源来实现优选的记录/再现特性。
申请公布号 CN100385532C 申请公布日期 2008.04.30
申请号 CN02826200.X 申请日期 2002.12.18
申请人 索尼株式会社 发明人 西纪彰;手塚贤;井上直树;桥本久仁日
分类号 G11B7/125(2006.01);G11B7/135(2006.01);G11B7/004(2006.01) 主分类号 G11B7/125(2006.01)
代理机构 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 代理人 党建华
主权项 1.一种光头,包括:光源;光聚焦部件,该部件把从光源发射的光束聚焦到光学记录介质上;光束分离部件,该部件使从光源发射的光束和从光学记录介质经光聚焦部件返回的返回光沿着不同的光路前进;光检测部件,该部件检测从光学记录介质经光束分离部件返回的返回光;以及光耦合效率变化部件和光耦合效率检测部件,光耦合效率变化部件用于改变光耦合效率,其中,光耦合效率是聚焦在光学记录介质上的光量与从光源发射的总光量的比率;以及光耦合效率检测部件用于检测与光耦合效率变化部件所改变的光耦合效率相应的信息,其中所述光头还包括:前端自动功率控制检测部件,设置在光耦合效率变化部件和光聚焦部件之间,用于监视向着记录表面前进的光束的量,以及其输出用于自动功率控制。
地址 日本东京