发明名称 双极性装置
摘要 本发明提供一种双极性装置,包括一射极形成在半导体基底中;一集极在半导体基底中与射极侧向的分隔;栅极终端形成在半导体基底上,用以定义射极与集极间的距离;以及外质基极形成在半导体基底上,与射极或集极具有预设距离,其中外质基极、射极、集极以及栅极终端均设置在主动区中,通过在半导体基底中的围绕的绝缘层结构来定义主动区。本发明所述双极性装置,具有改善过的效能、相容于互补金属氧化半导体技术、简洁的布局、步骤的简化、以及额外增加一终端,用以调整本身。
申请公布号 CN1838431A 申请公布日期 2006.09.27
申请号 CN200610056842.4 申请日期 2006.03.07
申请人 台湾积体电路制造股份有限公司 发明人 庄建祥
分类号 H01L29/739(2006.01);H01L27/082(2006.01) 主分类号 H01L29/739(2006.01)
代理机构 北京林达刘知识产权代理事务所 代理人 刘新宇
主权项 1.一种双极性装置,其特征在于,通过一互补金属氧化半导体程序所制成,该双极性装置,包括:一射极,形成在一半导体基底中;一集极,形成在该半导体基底中,并与该射极侧向的分隔;一栅极终端,形成在该半导体基底之上,用以定义该射极与该集极间的一距离;以及一外质基极,形成在该半导体基底中,与该射极或该集极具有一预设距离,其中该外质基极、射极、集极以及栅极终端均设置在一主动区中,通过一在该半导体基底中的围绕的绝缘层结构定义该主动区。
地址 台湾省新竹科学工业园区新竹市力行六路八号
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