发明名称 薄膜半导体装置及其制造方法、以及显示装置
摘要 本发明系以1次之雷射光照射引起横向结晶成长,形成均匀结晶构造之半导体薄膜。以雷射照射加热熔融位于比光吸收层103之图案更外侧的半导体薄膜105之外部区域107,并且不熔融位于比该图案更内侧之半导体薄膜之内部区域109而加热光吸收层103。其次,已熔融之半导体薄膜105冷却且于外部区域107与内部区域109之边界附近生成微小结晶粒S。再者,自边界朝向外侧以微小结晶粒S为核心进行第1横向成长,并于外部区域107之部分生成多结晶粒L1。最后,热自加热后之光吸收层103传递至半导体薄膜105且熔融内部区域109之后,自边界朝向内侧以多结晶粒L1为核心进行第2横向成长,且于内部区域109生成进一步扩大之多结晶粒L2。
申请公布号 TW200633018 申请公布日期 2006.09.16
申请号 TW095104478 申请日期 2006.02.10
申请人 新力股份有限公司 发明人 浅野明彦
分类号 H01L21/20;H01L21/336;H01L29/786 主分类号 H01L21/20
代理机构 代理人 陈长文
主权项
地址 日本