发明名称 半导体影像感测元件之封装方法
摘要 一种半导体影像感测元件之封装方法,其系以单晶矽晶片为制程基材,利用蚀刻方式将基材部份蚀穿,而于基材上部半形成一容置部,并于基材下半部形成数个穿孔,之后于基材表面形成电性绝缘层,再将锡球加温加压使其填满并固定于各穿孔,而后将影像感测晶片装置于容置部,并于影像感测晶片与各穿孔之锡球间打线,以完成电性连接,最后以透明板封合容置部,即完成封装工作。据此,可有效降低影像感测元件封装后之体积,且单晶矽之基材有利于提升散热效果。
申请公布号 TW200618133 申请公布日期 2006.06.01
申请号 TW093136601 申请日期 2004.11.26
申请人 邹庆福;黄裕盛 桃园县桃园市慈文路348巷12弄4号 发明人 邹庆福;黄裕盛
分类号 H01L21/56 主分类号 H01L21/56
代理机构 代理人 田国健
主权项
地址 台中县潭子乡大丰东三街72巷20号