发明名称 一种张膜式反光镜的焦距控制与测量方法及装置
摘要 张膜式反光镜焦距控制测量方法和装置,由点光源系列组成环状光源,环状光源发出的光线经过毛玻璃、分划板和凸透镜后转变为模拟太阳光[14],模拟太阳光[14]投射到反光镜镜面[18]后发射汇聚到焦点处,形成亮斑,位于模拟太阳光发射器[13]及成像平面上方的CCD测控系统,对亮斑进行图像采集,计算机对亮斑图像进行分析处理,即得出反光镜的焦距。应用本发明方法的测量装置由CCD测控系统,模拟太阳光发射器[13]及成像平面[12],模拟太阳光发射器-成像平面随动机构,张膜式反光镜成型系统,计算机[22]测控系统等部分组成。本发明系统简单,成本低廉,适用性广,可用于已定型的抛物型(准抛物型)碟式反光镜的焦距测量及张膜式反光镜成型过程中焦斑质量的控制。
申请公布号 CN1632498A 申请公布日期 2005.06.29
申请号 CN200310121159.0 申请日期 2003.12.22
申请人 中国科学院电工研究所 发明人 李斌;李安定;臧春城;郑飞;李鑫
分类号 G01M11/02;G02B5/08;G02B3/00 主分类号 G01M11/02
代理机构 北京科迪生专利代理有限责任公司 代理人 关玲
主权项 1、一种张膜式反光镜焦距控制与测量方法,其特征在于由点光源[33]系列组成环状光源[36],环状光源[36]发出的光线经过毛玻璃[37]、分划板[38]和凸透镜[31]后转变为模拟太阳光[14],模拟太阳光[14]投射到张膜式反光镜镜面[18]后反射,汇聚到焦点处,形成一个亮斑,位于模拟太阳光发射器[13]及成像平面[12]上方的CCD测控系统,对亮斑进行图像采集,送到计算机测控系统,计算机对亮斑图像进行分析处理,即可得出张膜式反光镜的焦距。
地址 100080北京市海淀区中关村北二条6号