| 主权项 |
1.一种驱动电路之量测方法,该驱动电路包括一扫瞄线驱动电路及一资料线驱动电路,用以驱动一显示器,该显示器包括复数条扫瞄线及复数条资料线,每一该些扫瞄线的起始端系耦接至该扫瞄线驱动电路,每一该些资料线的起始端系耦接至该资料线驱动电路,该量测方法包括下列步骤:将每一该些扫瞄线及每一该些资料线分别耦接至一第一测试焊垫及一第二测试焊垫;分别传送一第一测试讯号及一第二测试讯号至该扫瞄线驱动电路的输入端及该资料线驱动电路的输入端,其中该第一测试讯号系经由该扫瞄线驱动电路及每一该些扫瞄线,而传送至该第一测试焊垫,而该第二测试讯号系经由该资料线驱动电路及每一该些资料线,而传送至该第二测试焊垫;以及分别在该第一测试焊垫及该第二测试焊垫上做量测。2.如申请专利范围第1项所述之驱动电路之量测方法,其中当每一该些扫瞄线未耦接一电路时,则存在一二极体,该二极体系位于每一该些扫瞄线与该第一测试焊垫之间。3.如申请专利范围第2项所述之驱动电路之量测方法,其中该二极体的正极系耦接至每一该些扫瞄线,而该二极体的负极系耦接至该第一测试焊垫。4.如申请专利范围第1项所述之驱动电路之量测方法,其中当每一该些扫瞄线耦接一电路时,则该电路之一端系耦接至该第一测试焊垫。5.如申请专利范围第1项所述之驱动电路之量测方法,其中当每一该些资料线未耦接一电路时,则存在一二极体,该二极体系位于每一该些资料线与该第二测试焊垫之间。6.如申请专利范围第5项所述之驱动电路之量测方法,其中该二极体的正极系耦接至每一该些资料线,而该二极体的负极系耦接至该第二测试焊垫。7.如申请专利范围第1项所述之驱动电路之量测方法,其中当每一该些资料线耦接一电路时,则该电路之一端系耦接至该第二测试焊垫。8.如申请专利范围第1项所述之驱动电路之量测方法,其中欲量测该第一测试焊垫及该第二测试焊垫上的电流时,系使用一电流计来量测。9.如申请专利范围第1项所述之驱动电路之量测方法,其中欲量测该第一测试焊垫及该第二测试焊垫上的电压时,系使用一电压计来量测。10.如申请专利范围第1项所述之驱动电路之量测方法,其中该第一测试讯号及该第二测试讯号系一脉冲讯号。11.如申请专利范围第1项所述之驱动电路之量测方法,其中该第一测试讯号及该第二测试讯号系一电压讯号。12.如申请专利范围第1项所述之驱动电路之量测方法,其中该第一测试讯号及该第二测试讯号系一电流讯号。13.如申请专利范围第1项所述之驱动电路之量测方法,其中该显示器系一液晶显示器。图式简单说明:第1图绘示的是使用习知的驱动电路之量测方法之画素阵列及驱动电路的示意图;以及第2图绘示的是使用根据本发明一较佳实施例之驱动电路之量测方法之画素阵列及驱动电路的示意图。 |
