发明名称 高精度测量波片位相延迟的方法及其装置
摘要 高精度测量波片位相延迟的方法及其装置属于激光测量技术领域,其特征在于采用半内腔氦氖激光器,该激光器由一支增益管及一片独立反射镜组成,增益管两端分别固定一片反射镜和一片增透窗片,独立反射镜由压电陶瓷驱动。被测波片插入激光谐振腔中,激光器输出模式经一偏振片产生拍频,由探测器接收,经电路处理并送入频谱仪或频率计显示,据此算出波片的位相延迟。它还把应用两组磁铁形成的横向磁场加在增益管径向,或用一块附加的波片或一套加力装置来测量半/全波片位相延迟的方法;它还在实施例中枚举了五种测量装置的结构。它具有简单易行、测量精度高、成本低的优点。
申请公布号 CN1546989A 申请公布日期 2004.11.17
申请号 CN200310117382.8 申请日期 2003.12.12
申请人 清华大学 发明人 张书练;宗晓斌;张毅;韩艳梅
分类号 G01N21/27 主分类号 G01N21/27
代理机构 代理人
主权项 1.高精度测量波片位相延迟的方法,其特征在于:它是采用由一支增益管及一片由压电陶瓷驱动的独立反射镜组成的半内腔氦氖激光器来测量波片位相延迟的,在测量时把被测波片插入激光谐振腔中,激光器输出模式经一偏振片产生拍频后由光电探测器接收,再经电路处理并送入频谱仪或频率计显示,根据处理得到的拍频Δv和纵模间隔Δ用下式算出波片的位相延迟φ:<math> <mrow> <mi>&phi;</mi> <mo>=</mo> <mfrac> <mi>&Delta;v</mi> <mi>&Delta;</mi> </mfrac> <mi>&pi;</mi> <mo>;</mo> </mrow> </math> 当激光器输出包含两个正交方向的线偏振模式时,它们经过偏振片产生的由纵模v1和v′1形成的拍频Δv=v′1-v1被所述光电探测器和电路接收处理并由所述频率计输出后,调整所述的在压电陶瓷上施加的电压以改变谐振腔长,使两模式之一v1移出而下一级纵模v2进入激光器出光带宽,并由所说的频率计获得新的拍频Δv′=v2-v′1,根据两次的拍频数值Δv1、Δv′1即可算出波片的位相延迟。
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