发明名称 Ferroelectric thin film device and method of producing the same
摘要 <p>본 발명은 Si 기판과; Si 기판상에서 에피택셜 성장되고 Ti가 Al에 의해 부분 치환되는 TiN 박막과; TiN 박막상에서 에피택셜 성장되는 금속 박막; 및 금속 박막상에서 배향 성장되고 페로브스카이트 구조를 갖는 산화물로 조성되는 강유전체 박막을 포함하는 강유전체 박막 소자로서, TiN 박막에서 Ti를 치환하는 Al의 치환량은 Al 원자로 환산하여 약 1 내지 30%이며, TiN 박막의 산소 함유량은 산소 원자로 환산하여 약 5% 이하임을 특징으로 한다.</p>
申请公布号 KR19990072528(A) 申请公布日期 1999.09.27
申请号 KR19990004495 申请日期 1999.02.09
申请人 null, null 发明人 사쿠라이아츠시;리샤오민;시라츠유고수케
分类号 H01G4/33;H01L21/02;H01L21/768;H01L21/822;H01L21/8242;H01L21/8246;H01L21/8247;H01L27/04;H01L27/10;H01L27/105;H01L27/108;H01L29/788;H01L29/792;H01L41/187 主分类号 H01G4/33
代理机构 代理人
主权项
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