| 发明名称 |
TEST METHOD FOR ERASION FAULTY CELL OF FLASH MEMORY |
| 摘要 |
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| 申请公布号 |
JPH09306198(A) |
申请公布日期 |
1997.11.28 |
| 申请号 |
JP19970014406 |
申请日期 |
1997.01.29 |
| 申请人 |
LSI LOGIC CORP |
发明人 |
BEAA OOUEN ESU;SONDARARAYAN SARABUAANA;KABURANIAN ADAMU;ANDAASON TOOMASU PII;RE CHIYON TEII |
| 分类号 |
G11C29/04;G11C29/00;G11C29/02;(IPC1-7):G11C29/00 |
主分类号 |
G11C29/04 |
| 代理机构 |
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代理人 |
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| 主权项 |
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| 地址 |
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