发明名称 | 时间常数检测电路和时间常数调整电路 | ||
摘要 | 本发明提供在LSI中的时间常数检测电路,以检测在LSI中作为时间常的电阻和电容元件值的变化。模拟开关1和3在周期T(秒)内分别交替地接通和断开,以控制电容2的充放电。电容2的电容量C形成电阻Rp=T/C的伪电阻6,预定DC电压Vout被伪电阻6和普通电阻4的串联电路分压并被电容5平滑。在输出端7出现的平滑输出电压Vout由时间常数τ=1/RC唯一地确定,故在LSI中的电阻和电容的变化可通过测量Vout检测。 | ||
申请公布号 | CN1036096C | 申请公布日期 | 1997.10.08 |
申请号 | CN92115244.2 | 申请日期 | 1992.12.25 |
申请人 | 日本电气株式会社 | 发明人 | 市原正贵 |
分类号 | G01R27/00 | 主分类号 | G01R27/00 |
代理机构 | 中国专利代理(香港)有限公司 | 代理人 | 肖掬昌;王忠忠 |
主权项 | 1.被包含在LSI中作为相关电路一部分的时间常数检测电路,包括:用于对施加的预定DC电压进行分压的由用切换电容电路形成的伪电阻和普通电阻构成的电阻分压电路和用于平滑由所述电阻分压电路分压的电压的平滑电容。 | ||
地址 | 日本东京 |