发明名称 SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT DEVICE HAVING TESTING CIRCUIT
摘要
申请公布号 KR900008788(B1) 申请公布日期 1990.11.29
申请号 KR19870007326 申请日期 1987.07.08
申请人 FUJITSU CO.,LTD. 发明人 MITONO YOSHIHARA
分类号 H01L21/66;G01R31/28;G01R31/319;G06F11/22;H01L21/822;H01L27/04;(IPC1-7):G11C29/00 主分类号 H01L21/66
代理机构 代理人
主权项
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