| 发明名称 |
TEST POWER SUPPLY CIRCUIT IN INTEGRATED CIRCUIT |
| 摘要 |
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| 申请公布号 |
JPH01253949(A) |
申请公布日期 |
1989.10.11 |
| 申请号 |
JP19880081187 |
申请日期 |
1988.04.04 |
| 申请人 |
NIPPON TELEGR & TELEPH CORP <NTT> |
发明人 |
FUKAMI KENNOSUKE;TAKEYA TAKESHI;HORIGUCHI KATSUJI;MATSUDA KAZUHIRO |
| 分类号 |
H01L27/06;G01R31/26;G01R31/28;G01R31/3183;H01L21/822;H01L21/8249;H01L27/04;H02M3/00 |
主分类号 |
H01L27/06 |
| 代理机构 |
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代理人 |
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| 主权项 |
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| 地址 |
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