| 发明名称 |
IMMEDIATE FREQUENCY MEASURING SYSTEM OF HETERODYNE LASER AND MEASURING METHOD THEREOF |
| 摘要 |
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| 申请公布号 |
JPS63218830(A) |
申请公布日期 |
1988.09.12 |
| 申请号 |
JP19870238582 |
申请日期 |
1987.09.22 |
| 申请人 |
USA GOVERNMENT |
发明人 |
RICHIYAADO DABURIYUU UEISU;MITSUCHIERU EI JIYONSON;MITSUCHIERU EI GUROBITSUGU |
| 分类号 |
G01J9/00;B01D59/34;G01J9/04;G01M11/00 |
主分类号 |
G01J9/00 |
| 代理机构 |
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代理人 |
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| 主权项 |
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| 地址 |
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