| 发明名称 |
WERKWIJZE VOOR HET KARAKTERISEREN VAN KRISTALLEN. |
| 摘要 |
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| 申请公布号 |
NL7806696(A) |
申请公布日期 |
1978.12.28 |
| 申请号 |
NL19780006696 |
申请日期 |
1978.06.21 |
| 申请人 |
GENERAL ELECTRIC COMPANY TE SCHENECTADY, NEW YORK, VER.ST.V.AM. |
发明人 |
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| 分类号 |
A44C27/00;C23C24/02;C30B33/00;C30B33/04;G01N27/60;G01N33/38;(IPC1-7):G01N33/40;G01N21/16 |
主分类号 |
A44C27/00 |
| 代理机构 |
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代理人 |
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| 主权项 |
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| 地址 |
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