发明名称 半导体存储装置
摘要 在以规定的间距重复设置有在第1方向上延伸的1对布线的半导体存储装置中,具备按照规定模式的重复单位,设置有多个由栅极与1对布线中的一方布线相连接的MOS晶体管,和栅极与1对布线中的另一方布线相连接的MOS晶体管所构成的双晶体管的双晶体管群;双晶体管群的重复单位内,包括多个由两个MOS晶体管与第1方向相邻接配置而成的双晶体管,以及1个或多个由两个MOS晶体管在不邻接且偏斜的方向上相向设置而成的双晶体管。
申请公布号 CN100449761C 申请公布日期 2009.01.07
申请号 CN200510076007.2 申请日期 2005.06.03
申请人 尔必达存储器股份有限公司 发明人 关根顺一
分类号 H01L27/108(2006.01);G11C11/409(2006.01);H01L21/8242(2006.01) 主分类号 H01L27/108(2006.01)
代理机构 中科专利商标代理有限责任公司 代理人 李香兰
主权项 1.一种半导体存储装置,以规定的间距重复设置有在第1方向上延伸的1对布线,其特征在于:按照下述方式构成:具备双晶体管群,其按照规定模式的重复单位,设置有多个双晶体管,该双晶体管由栅极与所述1对布线中的一方布线相连接的第1MOS晶体管,和栅极与所述1对布线中的另一方布线相连接的第2MOS晶体管所构成,所述双晶体管群的重复单位内,包括多个由在所述第1方向相邻接配置所述第1及第2MOS晶体管而构成的双晶体管,以及1个或多个由不邻接且在相对所述第1方向以及与该第1方向正交的方向偏斜的方向上相向设置所述第1及第2MOS晶体管而构成的双晶体管。
地址 日本东京