发明名称 High-voltage semiconductor device.
摘要 <p>Bei Hochvolttransistoren wird der an die Oberfläche sich erstreckende pn-Übergang der Basis-Kollektor-Diode mit einer Glasschicht passiviert, um hierdurch eine ausreichende Sperrspannung sicherzustellen. Bei hohen Betriebstemperaturen treten jedoch Sperrspannungsverluste auf. Erfindungsgemäß wird eine niedrig dotierte p-leitende Zone vorgesehen, die den Basis-Bereich eines npn-Transistors ringförmig umschließt und von der Oberfläche aus tiefer reicht als die Basiszone. Mit einer solchen Anordnung wird eine hohe Sperrspannung erreicht, die bis über 200 °C hinaus temperaturstabil ist. <IMAGE></p>
申请公布号 EP0519268(A2) 申请公布日期 1992.12.23
申请号 EP19920109343 申请日期 1992.06.03
申请人 TELEFUNKEN ELECTRONIC GMBH 发明人 BROSTROEM, DORIS;HARMEL, HARTMUT;JEHL, BERNHARD, DR.;RYMAN, LENNART;VIEHMANN, KURT-RAINER
分类号 H01L23/31;H01L29/06;H01L29/10 主分类号 H01L23/31
代理机构 代理人
主权项
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