发明名称 |
High-voltage semiconductor device. |
摘要 |
<p>Bei Hochvolttransistoren wird der an die Oberfläche sich erstreckende pn-Übergang der Basis-Kollektor-Diode mit einer Glasschicht passiviert, um hierdurch eine ausreichende Sperrspannung sicherzustellen. Bei hohen Betriebstemperaturen treten jedoch Sperrspannungsverluste auf. Erfindungsgemäß wird eine niedrig dotierte p-leitende Zone vorgesehen, die den Basis-Bereich eines npn-Transistors ringförmig umschließt und von der Oberfläche aus tiefer reicht als die Basiszone. Mit einer solchen Anordnung wird eine hohe Sperrspannung erreicht, die bis über 200 °C hinaus temperaturstabil ist. <IMAGE></p> |
申请公布号 |
EP0519268(A2) |
申请公布日期 |
1992.12.23 |
申请号 |
EP19920109343 |
申请日期 |
1992.06.03 |
申请人 |
TELEFUNKEN ELECTRONIC GMBH |
发明人 |
BROSTROEM, DORIS;HARMEL, HARTMUT;JEHL, BERNHARD, DR.;RYMAN, LENNART;VIEHMANN, KURT-RAINER |
分类号 |
H01L23/31;H01L29/06;H01L29/10 |
主分类号 |
H01L23/31 |
代理机构 |
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代理人 |
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主权项 |
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地址 |
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