| 发明名称 | 在测试存贮器装置时写入数据的方法和测试存贮器装置的电路 | ||
| 摘要 | 测试存贮器装置的电路具有数据写入装置、数据检测装置和控制电路。测试存贮器装置时写入数据的方法包括下列步骤：在一对比特线B/L和B/L之间产生一电压差，以及在存贮单元的电容中直接存贮数据。根据本发明可在比特线上直接写入数据。此外，在一个周期内能够完整地校验每一存贮单元并大大地减少了测试时间。 | ||
| 申请公布号 | CN1048463A | 申请公布日期 | 1991.01.09 |
| 申请号 | CN90104915.8 | 申请日期 | 1990.06.09 |
| 申请人 | 三星电子株式会社 | 发明人 | 崔勋 |
| 分类号 | G11C29/00 | 主分类号 | G11C29/00 |
| 代理机构 | 中国专利代理有限公司 | 代理人 | 匡少波;黄小鸥 |
| 主权项 | 1、测试存贮器装置时写入数据的方法包括下列步骤： 控制电路通过选通-MOS晶体管在一对比特线之间产生一电压差以便不用I/O线而在该对比特线上直接写入数据以及 在由字线选通的存贮单元的电容中直接存贮数据。 | ||
| 地址 | 南朝鲜京畿道水原市 | ||