发明名称 半導体装置
摘要 制御回路(105)は、ツインセルデータの消去要求を受けたときに、第1記憶素子(102)と第2記憶素子(103)の閾値電圧が所定の書込みベリファイレベルとなるまで、第1記憶素子(102)と第2記憶素子(103)の両方または一方の閾値電圧を増加させる第1段階処理の実行を制御する。制御回路105は、第1段階処理の実行後に、第1記憶素子(102)と第2記憶素子(103)の閾値電圧が所定の消去ベリファイレベルとなるまで第1記憶素子(102)と第2記憶素子(103)の閾値電圧をともに減少させる第2段階処理の実行を制御する。
申请公布号 JPWO2015022743(A1) 申请公布日期 2017.03.02
申请号 JP20150531708 申请日期 2013.08.15
申请人 ルネサスエレクトロニクス株式会社 发明人 西山 崇之
分类号 G11C16/02;G11C16/04 主分类号 G11C16/02
代理机构 代理人
主权项
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