发明名称 III-V Halbleiterbauelement mit vergrabenen Kontakten und Herstellungsverfahren dafür
摘要 Halbleiterbauelement, das Folgendes umfasst: ein Halbleitersubstrat (100); eine erste Region (110) aus III-V-Halbleitermaterial auf dem Halbleitersubstrat (100); eine zweite Region (120) aus III-V-Halbleitermaterial auf der ersten Region (110), wobei die zweite Region (120) durch die erste Region (110) von dem Halbleitersubstrat (100) beabstandet ist, wobei die zweite Region (120) eine andere Zusammensetzung hat als die erste Region (110); und einen vergrabenen Kontakt (150), der sich von dem Halbleitersubstrat (100) durch die erste Region (110) zu der zweiten Region (120) erstreckt, wobei der vergrabene Kontakt (150) die zweite Region (120) elektrisch mit dem Halbleitersubstrat (100) verbindet und eine erste Seite (152) aufweist, die das Halbleitersubstrat (100) berührt, und eine zweite, gegenüberliegende Seite (154) aufweist, die die zweite Region (120) berührt, wobei das Halbleiterbauelement des Weiteren ein dielektrisches Material (180) umfasst, das sich von der zweiten Seite (154) des vergrabenen Kontakts (150) in Richtung einer Seite der zweiten Region (120) erstreckt, die von der ersten Region (110) fort weist.
申请公布号 DE102012111830(B4) 申请公布日期 2017.02.23
申请号 DE201210111830 申请日期 2012.12.05
申请人 Infineon Technologies Austria AG 发明人 Curatola, Gilberto;Haeberlen, Oliver;Pozzovivo, Gianmauro
分类号 H01L21/74;H01L21/283;H01L29/205;H01L29/778;H01L29/872 主分类号 H01L21/74
代理机构 代理人
主权项
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