发明名称 | 镭射平面度量测系统及方法 | ||
摘要 | |||
申请公布号 | TWI485359 | 申请公布日期 | 2015.05.21 |
申请号 | TW100111702 | 申请日期 | 2011.04.01 |
申请人 | 鸿海精密工业股份有限公司 | 发明人 | 张旨光;袁忠奎;蒋理;薛晓光 |
分类号 | G01B11/03;G01B11/30 | 主分类号 | G01B11/03 |
代理机构 | 代理人 | ||
主权项 | 一种镭射平面度量测方法,该方法包括步骤:将量测工件所需的治具装夹到量测设备的工作台上并固定,建立坐标系,其中,该量测设备带有两个镭射头,用于量测安装在治具上的两个相同工件;于工件的水平方向和垂直方向各设置两组扫描点,每组扫描点由起始点和结束点组成;将量测设备的工作台分别移动到各组扫描点,控制两个镭射头从各组的起始点扫描至结束点,并记录各扫描点的X、Y、Z轴坐标值;根据上述各扫描点的X、Y、Z轴坐标值校准所述坐标系;控制所述镭射头分别量测上述两个工件;根据所述校准后的坐标系及量测资料计算各工件的平面度;及根据预设的范围判断各工件的平面度是否合格,并提示判断结果。 | ||
地址 | 新北市土城区自由街2号 |