| 主权项 |
一种非均匀采样综合孔径辐射计的图像反演方法，其特征在于，包括下述步骤：S1：根据天线单元的位置坐标计算与天线单元对应的空间频率域中的非均匀采样点的位置，并对天线单元两两做复相关运算获得与所述天线单元对应的非均匀采样点的可见度函数的值；S2：根据非均匀采样点的位置将空间频率域分割成多个区域，并计算每个区域的面积；S3：根据每个区域的面积对非均匀采样点的可见度函数的值进行离散卷积运算，获得均匀采样点的可见度函数的值；S4：对所述均匀采样点的可见度函数的值进行傅里叶逆变换，获得观测空间的中间亮温分布图像；S5：根据中间亮温分布图像和窗函数的傅里叶逆变换的结果获得修正场景亮温图像；S6：根据修正场景亮温图像和观测场景亮温的倾斜因子的倒数获得观测场景亮温图像；在步骤S3中，根据公式<maths num="0001" id="cmaths0001"><math><![CDATA[<mrow><mover><mi>g</mi><mo>^</mo></mover><mrow><mo>(</mo><msub><mi>u</mi><mi>i</mi></msub><mo>,</mo><msub><mi>v</mi><mi>i</mi></msub><mo>)</mo></mrow><mo>=</mo><munder><mi>Σ</mi><mi>j</mi></munder><msub><mi>c</mi><mi>j</mi></msub><mover><mi>w</mi><mo>^</mo></mover><mrow><mo>(</mo><msub><mi>u</mi><mi>i</mi></msub><mo>-</mo><msub><mi>u</mi><mi>j</mi></msub><mo>,</mo><msub><mi>v</mi><mi>i</mi></msub><mo>-</mo><msub><mi>v</mi><mi>j</mi></msub><mo>)</mo></mrow><msub><mi>V</mi><mi>s</mi></msub><mrow><mo>(</mo><msub><mi>u</mi><mi>j</mi></msub><mo>,</mo><msub><mi>v</mi><mi>j</mi></msub><mo>)</mo></mrow><mo>+</mo><msub><mi>e</mi><mi>i</mi></msub></mrow>]]></math><img file="FDA0000604509760000011.GIF" wi="1185" he="143" /></maths>进行离散卷积运算；其中，(u<sub>i</sub>，v<sub>i</sub>)为第i个均匀采样点在空间频率域的坐标，(u<sub>j</sub>，v<sub>j</sub>)为第j个非均匀采样点在空间频率域的坐标，e<sub>i</sub>表示在第i个均匀采样点(u<sub>i</sub>，v<sub>i</sub>)上的插值误差，C<sub>j</sub>表示第j个区域的面积，<img file="FDA0000604509760000012.GIF" wi="344" he="81" />表示窗函数，V<sub>s</sub>(u<sub>j</sub>,v<sub>j</sub>)表示第j个非均匀采样点(u<sub>j</sub>，v<sub>j</sub>)的可见度函数的值，<img file="FDA0000604509760000013.GIF" wi="165" he="69" />表示均匀采样点(u<sub>i</sub>，v<sub>i</sub>)的可见度函数的值。 |
