发明名称 |
一种有效控制晶圆生产过程中生产周期失控的方法 |
摘要 |
本发明涉及半导体制造领域,尤其涉及一种有效控制晶圆生产过程中生产周期失控的方法。本发明提出一种有效控制晶圆生产过程中生产周期失控的方法,通过采用紧迫性系数对已送达至某一站点的所有lot重新赋予优先级,并根据该重新赋予的优先级依次对每个lot进行该站点的制程工艺,在提高产能效率的基础,有效控制产品生产周期的失控,进而提升产品的准时交货率。 |
申请公布号 |
CN102945030B |
申请公布日期 |
2015.04.01 |
申请号 |
CN201210435207.2 |
申请日期 |
2012.11.02 |
申请人 |
上海华力微电子有限公司 |
发明人 |
严丽辉;赵伟;柯陈宾 |
分类号 |
G05B19/418(2006.01)I |
主分类号 |
G05B19/418(2006.01)I |
代理机构 |
上海申新律师事务所 31272 |
代理人 |
竺路玲 |
主权项 |
一种有效控制晶圆生产过程中生产周期失控的方法,其特征在于,于一站点上,对已送达的所有lot进行组别划分;确认每个lot的交货期;计算每个lot的紧迫性系数;根据所述紧迫性系数重新赋予上述每个lot的优先级;根据优先级依次对每个lot进行该站点的制程工艺;其中,lot的优先级级别数与该lot的紧迫性系数成反比;采用公式C=(D‑D<sub>2</sub>)/(S‑X)计算每个lot的紧迫性系数,C为lot的紧迫性系数,D为lot的交货期,D<sub>2</sub>为当前日期,S为lot的制程总站点数,X为lot已完成站点数。 |
地址 |
201210 上海市浦东新区张江高科技园区高斯路568号 |