積層型一方向接触パッドを有する共面分析試験ストリップ

摘要

試験計測器と共に使用するための分析試験ストリップ（「ＡＴＴ」）は、第１絶縁層上面を有する第１絶縁層と、第１絶縁層上面に配設された第１導電層（「ＥＣＬ」）と、を含む。第１ ＥＣＬは、第１電極部（「ＥＰ」）と、前記第１ ＥＰと電気通信する電気接触パッドと、を含む。ＡＴＴは、第１ ＥＣＬの上に配設されたパターン化スペーサ層もまた含み、これは、（ｉ）第１ ＥＰの上に重なる体液試料受容チャンバを内部に画定する遠位部、及び（ｉｉ）第２ ＥＣＬが上に配設されている上面を有する絶縁性近位部を含む。第２ ＥＣＬは、層間接触部と電気接触パッドとを含む。ＡＴＴの第３ ＥＣＬは、第２ＥＰと、前記層間接触部の上に重なる近位部と、を含む。第２ ＥＰは、第１ ＥＰに対向する関係で試料受容チャンバの上に重なり、それに対して露出される。